5.2. SID

• 5.2.1. 概述
  • 5.2.1.1. 特性说明
  • 5.2.1.2. 原理框图
• 5.2.2. 功能描述
  • 5.2.2.1. eFuse和SRAM空间映射
  • 5.2.2.2. 512bit空间映射定义
  • 5.2.2.3. BROM_SECURE 区域定义
  • 5.2.2.4. CALI区域定义
  • 5.2.2.5. CHIP ID(sub)区域定义（放在1C~1F bit19:0）
  • 5.2.2.6. JTAG安全保护
• 5.2.3. 编程指南
  • 5.2.3.1. 初始化流程
  • 5.2.3.2. eFuse烧写流程
  • 5.2.3.3. eFuse读取流程
• 5.2.4. 寄存器列表
• 5.2.5. 寄存器描述
  • 5.2.5.1. 0x0000 EFUSE_CTL
  • 5.2.5.2. 0x0004 EFUSE_ADDR
  • 5.2.5.3. 0x0008 EFUSE_WDATA
  • 5.2.5.4. 0x000C EFUSE_RDATA
  • 5.2.5.5. 0x0010 EFUSE_TIMING
  • 5.2.5.6. 0x0014 EFUSE_PWR_CTL
  • 5.2.5.7. 0x0020 EFUSE_TIMING_HIGH
  • 5.2.5.8. 0x00FC SID_VER
  • 5.2.5.9. 0x200~0x23F EFUSE_DATA