12.3.2. 功能描述
12.3.2.1. 关于采样的定义
为了方便表述，本模块引入三个有关采样的定义。
- 单次采样：
是指对任意输入的一次ADC采样，对应一条ADC采样命令。
- 单点采样：
是指ADC在任意一个点的连续采样，有可能是单次采样，也有可能包含多次采样。例如ADC在获取X轴坐标对Y+ 信号进行单点采样时，通常会连续采样多次，以获得多个采样值，然后进行适当的滤波（例如算数平均），以获得一个更加准确和稳定的结果。
- 单循环采样
是指自动采样模式下，为了能够计算出一个完整的触摸坐标，需要对多个点进行采样，一个单循环采样包括多个采样点， 包含的采样点数不确定，根据不同的自动模式会不同，例如自动模式1（XN-YN），就对应着两个采样点X-和Y-。
- 周期循环采样
是指间隔一定时间重复完成单采样循环。
图 12.12 采样定义说明
12.3.3. 模块工作流程与控制机制
图 12.13 模块工作流程与控制框图
12.3.4. 中断产生机制
图 12.14 中断连接框图
12.3.5. 按压检测
如下图所示，按压检测信号从外部到内部经过屏蔽控制以及去抖两个过程。
图 12.15 按压检测框图
首先，按压检测信号PDETn输出采用PDETEN信号进行屏蔽，当PDETEN为高电平，PDETn输入有效，否则输入无效。
其次，按压检测信号经过屏蔽控制之后，还需要经过去抖才能为模块内部所使用。去抖原理如下图所示。
图 12.16 去抖原理框图
按压去抖过程描述：模块复位后，内部PDETd=0，表示已抬起，当按压信号有效（PDETi=1）时，去抖计数开始 采用PCLK/256的频率进行计数，期间如果检测信号有抖动（PDETi=0），计数器就会被清零，如果在足够的时 间内无抖动（PDETi=1），计数器就会计数到按压检测的去抖值（PDET_DEB），那么PDETd取反（PDETd=1）， 表示按压事件已被确定，随后计数器就会被清零。
抬起去抖过程描述：当触摸抬起（PDETi=0），去抖计数又 开始采用PCLK/256的频率进行计数，期间如果检测信号有抖动（PDETi=1），计数器就会被清零，如果在足够 的时间内无抖动（PDETi=0），计数器就会计数到抬起检测的去抖值（RDET_DEB），那么PDETd取反（PDETd=0 ），表示抬起事件已被确定，随后计数器就会被清零。
12.3.6. 采样模式描述
对于RTP模块而言，采样点有四个分别是X+，X-，Y+，Y-。采样模式主要是指对RTP的驱动电路的控制与采样 点选择。 根据采样点和驱动不同，可以分为以下8种常见采样模式，为了方便区别，分别对采样模式进行命令 如下。
XP采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x5，VPSEL[1:0] = VNSEL[1:0] =0x2，采样点选择X+。
图 12.17 XP采样
XN采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x5，VPSEL[1:0] = VNSEL[1:0] = 0x2，采样点选择X-。
图 12.18 XN采样
YP采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0xA，VPSEL[1:0] = VNSEL[1:0] = 0x1，采样点选择Y+。
图 12.19 YP采样
YN采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0xA，VPSEL[1:0] = VNSEL[1:0] = 0x1，采样点选择Y-。
图 12.20 YN采样
ZA采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x9，VPSEL[1:0] = 0x1，VNSEL[1:0] = 0x2，采样点选择Y+。
图 12.21 ZA采样
ZB采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x9，VPSEL[1:0] = 0x1，VNSEL[1:0] = 0x2，采样点选择X-。
图 12.22 ZB采样
ZC采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x6，VPSEL[1:0] = 0x2，VNSEL[1:0] = 0x1，采样点选择X+。
图 12.23 ZC采样
ZD采样：如下图所示分别是单点触摸和两点触摸的情况，DRV[3:0] = 0x6，VPSEL[1:0] = 0x2，VNSEL[1:0] = 0x1，采样点选择Y-。
图 12.24 ZD采样
12.3.7. 工作模式描述
本模块规定了多个工作模式，主要可分为两类：手动工作模式，自动工作模式。
手动工作模式，是指各采样模式完全由软件对寄存器进行控制而构造出来的，不限于以上定义的8种采样模式，不同采样模式的先后顺序都是由软件进行控制，这样可以获得最大的灵活度，以面对未来应用的不确定性。
自动工作模式，是指模块按照预先定义的采样模式（参考以上定义的8种采样模式），以及预定的顺序进行采样。让软件驱动控制得到最大程度的简化，可以做到一键完成所需的所有采样工作，软件只需要使用获得的采样值进行坐标运算即可。根据不同应用需要，自动模式分了4种情况，详细参考寄存器定义。
12.3.8. 自动模式采样数据滤波
自动工作模式下，采样数据滤波包括三个步骤：排序，超限判断，算数平均。
排序：把单点多次采样结果进行排序，找出最大和最小的值；
超限判断，用最大值-最小值，然后进行相对值和绝对值分别比较，如果同时超过两个数值，则整组采样数据判为无效，否则就认为数据有效；
算数平均：把最大值/最小值排除之后，对中间值进行算数平均，得到的结果作为单点采样的最终结果存入FIFO。
滤波配置有：无滤波，2/4，4/6，4/8。
“2/4”表示，单点采样连续采样4次，获得同一个点的连续的4个ADC样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均；
“4/6”表示，单点采样连续采样6次，获得同一个点的连续的6个ADC样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均；
“4/8”表示，单点采样连续采样8次，获得同一个点的连续的8个ADC样本数据，然后去掉最大2个和最小2个，再对剩下的数据进行算数平均。
举例如下：假设采样模式为XP，滤波配置为4/6，XYRUR=1/64，XYAUR=16，则对X+进行连续采样，得到6个数值，分别为A，B，C，D，E，F，并且A<B<C<D<E<F。
步骤1，排序：最小值A，最大值F；
步骤2，超限判断：如果((F-A) > XYAUR) || ((F-A) > ((F+A)/2* XYRUR)) == 1，则保留采样所得的数据，停止自动采样。数据超限与抬起都会导致RTP进入Error状态停止自动采样（周期性或单循环采样下）无需等待本自动采样完成，需要等待正在执行的单点采样完成，需软件清除采样不完整与数据超限标志。
步骤3，算术平均：DATA = (B+C+D+E)/4。
注：超限判断与算术平均同时进行。
12.3.9. 自动模式下的单点采样描述
自动模式下单点采样步骤如下：
步骤1，检查按压检测信号：确保DRV[3:0]=4’h1，并且PDETEN有效，检查经过去抖前的按压检测信号（PDETi），如果按压有效，则进入步骤2，否则置位SCI_FLG（采样循环不完整标志），并进入步骤N；
步骤2，驱动RTP电路：根据采样模式，分别配置DRV/VPSEL/VNSEL驱动电路，同时PDETEN无效，进入步骤3；
步骤3，发送ADC采样命令：根据滤波配置，连续向ADC发出多个采样命令，采样优先级PRI=1，收到对应数量的采样数据后，进入步骤4；
步骤4，采样数据滤波：按照前面描述的方式，对采样数据进行滤波，如果滤波完成则进入步骤5，否则置位DOUR_FLG（数据超限标志），并进入步骤N；
步骤5，完成采样：设置DRV=1，并且PDETEN有效，并完成采样；
步骤N，等待软件干预：进入Error状态，直到（SCI_FLG || DOUR_FLG）==0，重新进行下一次采样循环。
12.3.10. 自动模式下的采样循环描述
自动模式单循环采样说明：
自动模式周期循环采样说明：
